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MINITEST 720/730/740涂層測厚儀
SIDSP技術(shù)詳解:
MINITEST 720/730/740涂層測厚儀:
-**的SIDSP(探頭內(nèi)部數(shù)字信號處理)技術(shù)提升了測量的性
-測量范圍達15mm,可更換F、N或FN探頭,供內(nèi)置或外接探頭使用
-FN探頭自動識別F(鐵磁性)或N(非磁性)基體,操作方便不易出錯
SIDSP技術(shù)-全球zui新技術(shù),智能數(shù)字化的涂層測厚探頭
模擬信號處理時代已成過去,數(shù)字信號處理將成為未來的趨勢
MINITEST 720/730/740涂層測厚儀采用的SIDSP是什么?
SIDSP是由ElektrPhysik(簡稱EPK)研發(fā)的,ling先的涂層測厚探頭技術(shù)。EPK此項技術(shù)為涂層測厚領(lǐng)域的**奠定了新標準。
SIDSP即探頭內(nèi)部數(shù)字信號處理,這項技術(shù)使探頭在測量時,同時在探頭內(nèi)部將信號完全處理為數(shù)字形式。SIDSP探頭完全依據(jù)技術(shù)生產(chǎn)。
MINITEST 720/730/740涂層測厚儀的SIDSP工作原理?
跟傳統(tǒng)技術(shù)不同,SIDSP在探頭頂部產(chǎn)生和控制激發(fā)信號,回傳的信號經(jīng)過32位數(shù)字轉(zhuǎn)換和處理,帶給您的涂層厚度值。此項的數(shù)字處理技術(shù),同時應(yīng)用在現(xiàn)代通訊技術(shù)(手機網(wǎng)絡(luò))方面,如數(shù)字濾波器,基帶轉(zhuǎn)換,平均值,隨機分析,等等。此項技術(shù)能獲得與模擬信號處理無可比擬的信號質(zhì)量和度。厚度值通過探頭電纜數(shù)字化傳輸?shù)斤@示裝置。
SIDSP探頭與普通模擬探頭相比,具有決定性的,為涂層測厚設(shè)定了一個新的標準。
MINITEST 720/730/740涂層測厚儀為什么選擇SIDSP?
SIDSP探頭具有極高的抗干擾性
任何與測量相關(guān)的信號,都由SIDSP在靠近探頭頂部的位置進行處理。測量信號不會通過探頭電纜傳輸時受到干擾,因為不再有測量信號的傳輸。探頭電纜僅僅為探頭供電,并傳輸數(shù)字化的厚度值到顯示裝置。即使您的測量工件需要特別長的電纜線也沒問題,加長的電纜線同樣具有極強的抗干擾能力。
MINITEST 720/730/740涂層測厚儀SIDSP-測量信號高穩(wěn)定性
EPK的SIDSP探頭具有極高的重現(xiàn)性。將探頭放在同一測量點測量幾次,每次您都可以得到基本一樣的結(jié)果,再次證明了SIDSP探頭的性能。
MINITEST 720/730/740涂層測厚儀高度的SIDSP探頭特征曲線
在生產(chǎn)過程中,EPK的SIDSP探頭要經(jīng)過嚴格的校準。一般的模擬探頭只會在特征曲線上選幾個點來校準,但SIDSP探頭不同:由于是全自動化過程,探頭在50個點上進行校準,大大降低了特征曲線的偏離。因此特征曲線在整個量程范圍內(nèi)都十分精準,將測量錯誤降至zui低。
MINITEST 720/730/740涂層測厚儀SIDSP探頭對溫度變化不敏感
在生產(chǎn)過程中,對每個SIDSP探頭都進行了溫度補償?shù)木幋a,這對于模擬探頭是根本不可能實現(xiàn)的。這樣溫度改變就不會影響測量,與溫度相關(guān)的錯誤不會在SIDSP探頭上發(fā)生!
MINITEST 720/730/740涂層測厚儀SIDSP探頭適應(yīng)性強
需要快速測量幾個點嗎?只要開啟快速測量模式,探頭自動轉(zhuǎn)換到特定設(shè)置。想進行高精度測量嗎?沒問題,只要選擇高精度模式,儀器同樣能自動轉(zhuǎn)換。不論您要求測量單個數(shù)值還是連續(xù)測量,SIDSP都能完成您的選擇!
MINITEST 720/730/740涂層測厚儀SIDSP N和FN型探頭基體導(dǎo)電性補償
由于使用了EPK特殊的自動補償方法,SIDSP電渦流探頭可以適應(yīng)多種導(dǎo)電性不同的非鐵基體材料,如銅,鈦,等等,無需特別在基體上校準儀器。
SIDSP-未來解決方案
EPK將繼續(xù)改進SIDSP技術(shù)以滿足客戶的需求。您可以從EPK的網(wǎng)站進行免費的軟件升級,使您的SIDSP探頭總是zui新版本。
MINITEST 720/730/740涂層測厚儀及SIDSP
新的MINITEST 700產(chǎn)品線,加強了EPK在全球涂層測厚市場的領(lǐng)導(dǎo)地位.
有了新的SIDSP F型探頭(測量鐵基體)和N型探頭(測量非鐵基體),您可享受到高度和高重現(xiàn)性帶給您的和便利。新的MINITEST 700可以解決您所有涂層厚度問題,而產(chǎn)品上等的外觀是您長期價值和成功的關(guān)鍵,比如汽車、造船、鋼鐵、橋梁建筑,或電鍍等行業(yè)。
MINITEST 720/730/740涂層測厚儀增加了測量速度設(shè)置選項
MINITEST 700可以讓您輕松變換測量需求。在對精度要求不高的條件下,您可以短時間測量大量數(shù)值;也可以只測量少數(shù)幾個數(shù)值,但要求精度很高,您只需選擇相應(yīng)的模式就可以做到。測量值超過您所設(shè)定的值時,儀器會報警,保證您即使在快速模式下也不會錯過任何信息。儀器具備聲、光報警,在范圍內(nèi)用LED燈表示,超過值則用紅色LED燈提示。
MINITEST 720/730/740涂層測厚儀使用簡單方便
MINITEST 700按照人體工學(xué)設(shè)計,外形很適合人手掌握。為了質(zhì)量控制和檢驗的靈活性,MINITEST 740可以輕易由內(nèi)置探頭變換為外置探頭,方便測量難以到達的部位。MINITEST 700系列可以滿足您所有涂層測量需求:如果您想單手測量,可以選擇內(nèi)置探頭的720。730則是外置探頭的。所有型號都配有一個超大、背光的顯示屏,顯示內(nèi)容可以180度旋轉(zhuǎn),方便您讀取數(shù)據(jù)。
預(yù)設(shè)選項節(jié)省您的時間和**
所有MINITEST 700探頭都可以對不規(guī)則形狀表面做出補償。當(dāng)您在無涂層基體上校零時,整個量程范圍都在這個特定的形狀和材料基礎(chǔ)上進行校準。為節(jié)省您的時間和**,儀器預(yù)設(shè)了大量校準方法,適用于各種表面情況和精度要求。您可選擇出廠校準,零點校準,2點校準和3點校準。另外,還有針對不同粗糙程度的粗糙度校準。FN探頭自動識別基體類型避免操作者犯錯。為適應(yīng)全球銷售需要,MINITEST 700滿足各種標準:SSPC-PA2,ISO,瑞典(SS184160),澳大利亞(AS 3894.3),ISO 19840和ASTM D7091(以前的D1186和D1400)。
涂層測厚儀優(yōu)點一覽:
-SIDSP使測量不受干擾,測值更加
-可更換探頭使用更加靈活(MINITEST 740探頭可由內(nèi)置換為外置)
-FN探頭自動識別基體,使測量更迅速,避免操作錯誤
-溫度補償功能避免溫度變化引起的錯誤
-生產(chǎn)過程中50點校準使儀器獲得高度的特征曲線
-大存儲量,能存儲10或100組多達100,000個讀數(shù)
-讀數(shù)和統(tǒng)計值能單獨調(diào)出
-超大,背光顯示屏,顯示內(nèi)容可180度旋轉(zhuǎn)
-菜單指引操作,25種語言可選
-帶IrDA接口,紅外線傳輸數(shù)據(jù)到打印機和PC
-可下載更新軟件
MINITEST 720/730/740涂層測厚儀標準配置: 推薦配件:
帶塑料手提箱,內(nèi)含: -F1.5/N0.7/FN1.5探頭用測量支架
-MINITEST 720(內(nèi)置探頭)
--或MINITEST 730(外置探頭)
--或MINITEST740主機(不含探頭,有各種探頭可選)
-校準套裝含校準片和零板
-操作使用說明CD,德語、英語、法語、西班牙語
-2節(jié)AA電池
MINITEST 720/730/740涂層測厚儀技術(shù)數(shù)據(jù):
SIDSP探頭
型號 特性 |
MINITEST 720 |
MINITEST 730 |
MINITEST 740 |
探頭類型 |
內(nèi)置 |
外置 |
內(nèi)置外置可換 |
數(shù)據(jù)記憶組數(shù) |
10 |
10 |
100 |
存儲數(shù)據(jù)量 |
zui多10,000個 |
zui多10,000個 |
zui多100,000個 |
統(tǒng)計值 |
讀值個數(shù),zui小值,zui大值,平均值,標準方差,變異系數(shù),組統(tǒng)計值(標準設(shè)置/自由配置) |
||
校準程序符合標準和規(guī)范 |
ISO,SSPC,瑞典標準,澳大利亞標準 |
||
校準模式 |
出廠設(shè)置校準,零點校準,2點校準,3點校準,使用者可調(diào)節(jié)補償值 |
||
值監(jiān)控 |
聲、光報警提示超過 |
||
測量單位 |
um,mm,cm;mils,inch,thou |
||
操作溫度 |
-10℃-60℃ |
||
存放溫度 |
-20℃-70℃ |
||
數(shù)據(jù)接口 |
IrDA 1.0(紅外接口) |
||
電源 |
2節(jié)AA電池 |
||
標準 |
DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840 |
||
體積 |
157mm x 75.5mm x 49mm |
||
重量 |
約175g |
約210g |
約175g(內(nèi)置)/230g(外置) |
探頭 特性 |
F1.5,N0.7,F(xiàn)N1.5 |
F2 |
F5,N2.5,F(xiàn)N5 |
F15 |
||
F |
N |
F |
F |
N |
F |
|
測量范圍 |
0-1.5mm |
0-0.7mm |
0-2mm |
0-5mm |
0-2.5mm |
0-15mm |
使用范圍 |
小工件,薄涂層,跟測量支架一起使用 |
粗糙表面 |
標準探頭,使用廣泛 |
厚涂層 |
||
測量原理 |
磁感應(yīng) |
電渦流 |
磁感應(yīng) |
磁感應(yīng) |
電渦流 |
磁感應(yīng) |
信號處理 |
探頭內(nèi)部32位信號處理(SIDSP) |
|||||
度 |
±(1μm+0.75%讀值) |
±(1.5μm+0.75%讀值) |
±(5μm+0.75%讀值) |
|||
重復(fù)性 |
±(0.5μm+0.5%讀值) |
±(0.8μm+0.5%讀值) |
±(2.5μm+0.5%讀值) |
|||
低端分辨率 |
0.05μm |
0.1μm |
1μm |
|||
zui小曲率半徑(凸) |
1.0mm |
1.5mm |
5mm |
|||
zui小曲率半徑(凹,外置探頭) |
7.5mm |
10mm |
25mm |
|||
zui小曲率半徑(凹,內(nèi)置探頭) |
30mm |
30mm |
30mm |
|||
zui小測量面積 |
Φ5mm |
Φ10mm |
Φ25mm |
|||
zui小基體厚度 |
0.3mm |
40μm |
0.5mm |
0.5mm |
40μm |
1mm |
連續(xù)模式下測量速度 |
每秒20個讀數(shù) |
|||||
單值模式下zui大測量速度 |
每分鐘70個讀數(shù) |